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新聞資訊

日本J-RAS離子遷移試驗裝置的原理及方法介紹

     日本J-RAS離子遷移試驗裝置可對離子遷移絕緣電阻值進行高精度、高信賴性、高效率的評價。

     從當今的地球、市場環境來看,省能源、鉛/無鹵素、小型輕量、低價、高依賴等觀點出來的,新素材、新實裝方法的研究開發、評價方法的重估是必須的。

     離子遷移實驗裝置是一種依賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓(BIAS  VOLTAGE),經過長時間的測試(1~1000小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生(ION  MIGRATION),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是OPEN/SHORT試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。

日本J-RAS離子遷移試驗裝置離子質譜方法
     一種產生離子質譜信息的方法,包括下列步驟:產生氣態離子團;沿**軸及時分離氣態離子團,形成多個離子組,各離子組具有與其相關的單一離子遷移率;沿垂直于**軸的第二軸順序地及時分離至少一些離子組,形成多個離子小組,各離子小組具有與其相關的單一離子質量;和處理至少一些離子小組,由此確定質量的特定信息。

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